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高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
產(chǎn)品簡介

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;
科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測

產(chǎn)品型號:
更新時間:2024-09-12
廠商性質:代理商
訪問量:2648
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高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

 

項目

細則

收費

說明

Rocking Curve

單一圖譜,30min 以內;若超 過 30min,延長時間按240元 /30min計,不足30min 按 30min計; 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀,厚 度≤1mm,直徑≤2cm

240元/樣

1.長時間數(shù)據(jù)手機(大于5h)、復雜樣品等特殊測試,價格需面議;

2.原位測試需提供測試方法

2Theta/Omega Scan

對稱掃描單一圖譜,30min 以 內;掃描時間大于 30min,延 長時間按240元/30min,不足 30min 按 30min 計

240元/樣

2Theta/Omega Scan

不對稱掃描單一圖譜,30min 以內;掃描時間大于 30min, 延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

300元/樣

Skew Scan

不對稱掃描單一圖譜,30min 以內;掃描時間大于 30min, 延長時間按 240 元/30min計,不足 30min 按 30min 計

300元/樣

XRR

單一圖譜,30min 以內;掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

300元/樣

GID

單一圖譜,30min 以內;掃描 時間大于 30min,延長時間按240 元 /30min計,不足30min 按 30min 計

300元/樣

Phi Scan

Phi 掃描單一圖譜,30min 以 內;掃描時間大于30min,延長時間按 240元/30min計,不足 30min 按 30min 計

300元/樣

RSM

單點倒易空間 mapping 單一圖譜,30min 以內;掃描時間 大于 30min,延長時間按240元/30min計,不足30min 按 30min 計

400元/樣

低溫測試

包含 2 個溫度點,第二點后, 240 元/ 測試點;低溫測試液氮另加30元/時

900元/樣

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

儀器功能特點:

1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源,強度是封閉靶的5倍;

2- 入射光路三光路自動切換系統(tǒng):粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細管透射、反射、外延薄膜高分辨;

3- 探測器的開口大,適合測試速度快原位;配置準直器后開展二維衍射實時分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統(tǒng)可實時檢測反應中結構的演變過程;

4- 原位充放電、原位電化學附件更是快速準確地追溯揭示了phase transformation過程。

應用范圍:

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結構變化,探索材料合成條件;也可以用來探測充放電到某個電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應的結構變化,這對探討實際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結構變化引起的安全問題是一種重要的手段;

科研支撐

變溫物相分析

變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動力學分析

分析、電池充放電物相分析、原位電化學反應物相分析。

產(chǎn)業(yè)支撐

藥物作用機理及動力學分析、藥物理化性質及穩(wěn)定性分析。

 

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